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        鍍層測厚儀的原理和優點
      1. 發布日期:2017-11-24     信息來源:      瀏覽次數:1533
        • 鍍層厚度測量已成為加工工業、表面工程質量檢測的重要環節,是產品達到優等質量標準的必要手段。為使產品化,我國出口商品和涉外項目中,對鍍層厚度有了明確要求。鍍層測厚儀采用磁性測厚方法,可無損傷檢測磁性金屬基體(如:鐵、鋼、合金和硬磁性鋼等)上非磁性覆層的厚度(如:鋅、鋁、鉻、銅、橡膠、油漆等)。儀器廣泛地應用于制造業、金屬加工業、化工業、商檢等檢測領域。是材料保護專業*的儀器。
           
          鍍層測厚儀的工作原理:
           
          鍍層測厚儀是將X射線照射在樣品上,通過從樣品上反射出來的第二次X射線的強度來。測量鍍層等金屬薄膜的厚度,因為沒有接觸到樣品且照射在樣品上的X射線只有45-75W左右,所以不會對樣品造成損壞。同時,測量的也可以在10秒到幾分鐘內完成。測量的對象包括涂層、鍍層、敷層、貼層、化學生成膜等(在有關國家和標準中稱為覆層(coating))。
           
          鍍層測厚儀的優點介紹:
           
          1. 測量速度快
          2. 精度高精度,可達到1-2%
          3. 穩定性高
          4. 功能、數據、操作、顯示全部是中文測量方法
          5、覆層厚度的測量方法主要有:楔切法,光截法,電解法,厚度差測量法,稱重法,X射線熒光法,β射線反向散射法,電容法、磁性測量法及渦流測量法等。這些方法中前五種是有損檢測,測量手段繁瑣,速度慢,多適用于抽樣檢驗。
          6、X射線和β射線法是無接觸無損測量,但裝置復雜昂貴,測量范圍較小。因有放射源,使用者必須遵守射線防護規范。X射線法可測極薄鍍層、雙鍍層、合金鍍層。β射線法適合鍍層和底材原子序號大于3的鍍層測量。電容法僅在薄導電體的絕緣覆層測厚時采用。

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