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      THICK-800AX熒光測厚儀的優點介紹
    1. 發布日期:2021-11-10     信息來源:      瀏覽次數:557
      • X熒光測厚儀又稱X射線熒光測厚儀,主要用于精密測量金屬電鍍層的厚度。
         
        X射線鍍層測厚儀的測量原理:
         
        物質經X射線或粒子射線照射后,由于吸收多余的能量而變成不穩定的狀態。從不穩定狀態要回到穩定狀態,此物質必需將多余的能量釋放出來,而此時是以熒光或光的形態被釋放出來。熒光X射線鍍層厚度測量儀或成分分析儀的原理就是測量這被釋放出來的熒光的能量及強度,來進行定性和定量分析。
         
        THICK-800AX熒光測厚儀的優點:
         
        滿足各種不同厚度樣品以及不規則表面樣品的測試需求
         
        φ0.1mm的小孔準直器可以滿足微小測試點的需求
         
        高精度移動平臺可精確定位測試點,重復定位精度小于0.005mm
         
        采用高度定位激光,可自動定位測試高度
         
        定位激光確定定位光斑,確保測試點與光斑對齊
         
        鼠標可控制移動平臺,鼠標點擊的位置就是被測點
         
        高分辨率探頭使分析結果更加精準
         
        良好的射線屏蔽作用
         
        測試口高度敏感性傳感器保護

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