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      X熒光光譜儀XRF的性能特點和主要優勢概述
    1. 發布日期:2022-01-14     信息來源:      瀏覽次數:955
      •    X熒光光譜儀XRF是用X-射線管發出的初級線束輻照樣品,激發各化學元素發出二次譜線。是用X射線直接照射樣品發射X熒光,分光晶體將熒光光束色散后,測定各種元素的特征X-射線波長和強度,從而測定各種元素的含量;而光譜儀是通過濾光片得到背景相對較低的X射線,照射樣品發射X熒光,X熒光借助高分辨率敏感半導體檢測器與多道分析器將未色散的X-射線按光子能量進行色散,根據各元素特征能量的強度高低來測定各元素的量;根據各元素特征能量的強度高低來測定各元素的量,這就大大提高了儀器的信噪比,提高了能譜儀分析輕元素的能力。

         
          X熒光光譜儀XRF的性能特點:
          專業的水泥、鋼鐵、礦料等全元素分析,亦可用于鍍層檢測和RoHS檢測。
         
          超薄窗大面積的進口SDD探測器。
         
          內置信噪比25倍。
         
          抽真空樣品腔,有利于低含量輕元素的分析
         
          針對不同樣品可自動切換準直器和濾光片。
         
          任意多個可選擇的分析和識別模型
         
          相互獨立的基體效應校正模型
         
          多變量非線性回歸程序
         
          智能全元素分析軟件,與儀器硬件相得益彰,且操作簡單。
         
          X熒光光譜儀XRF的主要優勢:
          1、采用獨特的激發X光源,樣品激發結構和探測系統,大大提高儀器元素的檢測靈敏度(降低檢出限);
         
          2、具有現代化的外觀,結構和色彩,上蓋電動控制開關,更人性化;
         
          3、準直器,濾光片自動切換,可適應不同的樣品測試要求;
         
          4、大容量的樣品腔和高清攝像頭,樣品測量更靈活方便;
         
          5、配備功能齊全的測試軟件。

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