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      網站首頁  ◇  技術支持  ◇  波長色散X射線熒光光譜儀具有哪些優點?
      波長色散X射線熒光光譜儀具有哪些優點?
    1. 發布日期:2022-05-09     信息來源:      瀏覽次數:277
      • 波長色散X射線熒光光譜儀是利用原級X射線或其他光子源激發待測物質中的原子,使之產生熒光(次級X射線),從而進行物質成分分析的儀器,主要用于化學、材料科學、化學工程領域。
         
        波長色散X射線熒光光譜儀的原理:
         
        XRF是基于X射線的一種分析手段,當一束高能粒子與原子相互作用時,如果其能量大于或等于原子某一軌道電子的結合能,將該軌道電子逐出,形成一個空穴使原子處于激發態,由于激發態不穩定,外層電子向空穴躍遷使原子恢復到平衡態,躍遷時釋放出的能量以輻射的形式放出便產生X熒光。X熒光具有特征的波長,對應的即是特征的能量,通過對光子的特征波長進行辨識,XRF能實現對元素的定性分析,通過探測特征波長的X射線光子的強度,實現元素的定量和半定量分析。
         
        具有以下優點:
         
        1、分析速度高。測定用的時間與測定精密度有關,但一般都很短,2~5分鐘就可以測完樣品中的全部待測元素。
         
        2、X射線熒光光譜儀跟樣品的化學結合狀態無關,而且跟固體、粉末、液體及晶質、非晶質等物質的狀態也基本上沒有關系。大多數分析元素均可用其進行分析,可分析固體、粉末、熔珠、液體等樣品,分析范圍為Be到U。(氣體密封在容器內也可分析)但是在高分辨率的精密測定中卻可看到有波長變化等現象。特別是在超軟X射線范圍內,這種效應更為顯著。波長變化用于化學位的測定。
         
        3、非破壞分析。在測定中不會引起化學狀態的改變,也不會出現試樣飛散現象。同一試樣可反復多次測量,結果重現性好。
         
        4、X射線熒光分析是一種物理分析方法,所以對在化學性質上屬同一族的元素也能進行分析。
         
        5、分析精密度高。
         
        6、制樣簡單,固體、粉末、液體樣品等都可以進行分析。

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