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        天瑞X射線熒光光譜儀廣受課題研究和生產監控的深愛
      1. 發布日期:2016-03-10     信息來源:      瀏覽次數:1759
        •     天瑞X射線熒光光譜儀具有重現性好,測量速度快,靈敏度高的特點。能分析F(9)~U(92)之間所有元素。樣品可以是固體、粉末、熔融片,液體等,分析對象適用于煉鋼、有色金屬、水泥、陶瓷、石油、玻璃等行業樣品。無標半定量方法可以對各種形狀樣品定性分析,并能給出半定量結果,結果準確度對某些樣品可以接近定量水平,分析時間短。薄膜分析軟件FP-MULT1能作鍍層分析,薄膜分析。測量樣品的zui大尺寸要求為直徑51mm,高40mm。

             
          天瑞X射線熒光光譜儀分析對象主要有各種磁性材料(NdFeB、SmCo合金、FeTbDy)、鈦鎳記憶合金、混合稀土分量、貴金屬飾品和合金等,以及各種形態樣品的無標半定量分析,對于均勻的顆粒度較小的粉末或合金,結果接近于定量分析的準確度。X熒光分析快速,某些樣品當天就可以得到分析結果。適合課題研究和生產監控。
             
          天瑞X射線熒光光譜儀特點:
              分析的元素范圍廣,從4Be到92U均可測定;
              熒光X射線譜線簡單,相互干擾少,樣品不必分離,分析方法比較簡便;
              分析濃度范圍較寬,從常量到微量都可分析。重元素的檢測限可達ppm量級,輕元素稍差;
              分析樣品不被破壞,分析快速,準確,便于自動化。
             
          天瑞X射線熒光光譜儀指標信息
              1.發射源是Rh靶X光管,zui大電流125mA,電壓60kV,zui大功率3kW
              2.儀器在真空條件下工作,真空度<13pascals
              3.5塊分析晶體,可以分析元素周期表F~U之間所有元素,含量范圍是ppm~100%
              4.分析軟件是Philips公司(現為PANalytical)版軟件,既可作半定量,也可定量分析。精密度:在計算率N=1483870時,RSD=0.08% 穩定性計算率Nmax=6134524,Nmin=6115920,N平均=6125704,相對誤差為0.03%

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