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        XRF光譜儀的主要性能和結構作用
      1. 發布日期:2019-12-26     信息來源:公司新聞      瀏覽次數:1585
        •    XRF光譜儀是針對質量保證和過程控制的分析儀。分析可被應用于多種樣品種類,包括固體、液體、粉末、軟膏、薄膜等,從PPM到%極、覆蓋元素周期表中Na11至U92的范圍。

           
            XRF光譜儀的主要性能
            集合了多年ROHS檢測經驗,對Br、C1等鹵素進行了優化,ROHS/鹵素元素可一次性完成,無需分開測試;
           
            核心配件均采用進口件,大大提高儀器的品質性能;
           
            x光管設計使用壽命為大于3萬小時.德譜*的延長光管使用壽命的技術:
           
            (1)、光管自動老化功能,
           
            (2)、自動跟進不同材質選擇不同的光管電流
           
            (3)、強大的散熱系統保證光管正常的工作條件;
           
            模塊化的功能設計理念便于應對指令進行、檢測元素內容的升級;*更為精巧的工藝,實現小體積樣品的檢測;
           
            全光路射線防護系統配合三重安全防護設計,同時采用軟硬件雙重安全連鎖,確保輻射安全性能。
           
            XRF光譜儀的結構作用
            在結構上主要由激發源、色散系統、探測系統等3部分組成。
           
            X射線光管發射的原級X射線入射至樣品,激發樣品中各元素的特征譜線
           
            分光晶體將不同波長λ的X射線分開
           
            探測器記錄經分光的特定波長的X射線光子N
           
            根據特定波長X射線光子N的強度,計算出與該波長對應的元素的濃度。

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