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        X射線熒光光譜儀的功能及應用
      1. 發布日期:2020-01-13     信息來源:公司新聞      瀏覽次數:1094
        •    X射線熒光光譜儀已在地質、冶金、材料、環境等無機分析領域得到了廣泛的應用,是各種無機材料中主組分分析重要的技術手段之一,各種與X射線熒光光譜相關的分析技術,如同步輻射XRF、全反射XRF光譜技術等,在痕量和超痕量分析中發揮著重要的作用。

           
            X射線熒光光譜儀的功能:
            XRF是基于X射線的一種分析手段,當一束高能粒子與原子相互作用時,如果其能量大于或等于原子某一軌道電子的結合能,將該軌道電子逐出,形成一個空穴使原子處于激發態,由于激發態不穩定,外層電子向空穴躍遷使原子恢復到平衡態,躍遷時釋放出的能量以輻射的形式放出便產生X熒光。
           
            X熒光具有特征的波長,對應的即是特征的能量,通過對光子的特征波長進行辨識,XRF能實現對元素的定性分析,通過探測特征波長的X射線光子的強度,實現元素的定量和半定量分析。
           
            X射線熒光光譜儀應用:
            固體樣品中元素的定性、定量、半定量分析。固體樣品類型包括塊狀固體、小顆粒小配件、薄膜、粉末、濾膜等。常見的XRF譜儀分為波長色散型和能量色散型,兩者具有不同的分析范圍和分析特點。
           
            本中心安裝的儀器為波長色散型XRF,為波長色散XRF元素分析周期表,可分析元素從4號Be元素至95號Am元素,特定的輕元素分析需要配備相應的分光晶體。表1為幾種常見的無機材料元素分析手段對比。

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