不同元素發出的特征X射線能量和波長各不相同，因此通過對X射線的能量或者波長的測量即可知道它是何種元素發出的，進行元素的定性分析。同時樣品受激發后發射某一元素的特征X射線強度跟這元素在樣品中的含量有關，因此測出它的強度就能進行元素的定量分析。

　　因此，X射線熒光光譜儀有兩種基本類型：波長色散型（WDEXRF）和能量色散型（EDXRF）。

　　為了滿足現代企業管理和生產要求，必須對生產過程中的原材料的化學成分進行及時、準確的分析和控制，傳統的化學分析方法已經完全不能滿足生產過程的需要；。目前眾多新型冶煉企業為了達到良好的質量控制指標，大都配備了相應的分析儀。由于化學分析方法分析速度的限制，實際上，采用化學分析方法對于生產過程來說只有事后監測的意義，而沒有控制意義，往往是當我們發現某個控制環節有問題時，已經造成了嚴重的后果，給工廠帶來了很大的損失。

熒光光譜儀的主要用途 

    1.熒光激發光譜和熒光發射光譜 
    2.同步熒光（波長和能量）掃描光譜 
    3.3D（Ex Em Intensity） 
    4.Time Base和CWA（固定波長單點測量） 
5.熒光壽命測量，包括壽命分辨及時間分辨 
6.計算機采集光譜數據和處理數據（Datamax和Gram32）

X熒光光譜儀應用對象 

      分析對象主要有各種磁性材料（NdFeB、SmCo合金、FeTbDy）、鈦鎳記憶合金、混合稀土分量、貴金屬飾品和合金等，以及各種形態樣品的無標半定量分析，對于均勻的顆粒度較小的粉末或合金，結果接近于定量分析的準確度。X熒光光譜儀分析快速，某些樣品當天就可以得到分析結果。適合課題研究和生產監控。