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      XRF光譜分析儀優點
    1. 發布日期:2017-03-22     信息來源:公司新聞      瀏覽次數:1908
      • XRF光譜分析儀優點:

        1)分析速度高。測定用時與測定精密度有關,但一般都很短,2~5分鐘就可以測完樣品中的全部待測元素。

        2)XRF光譜分析儀跟樣品的化學結合狀態無關,而且跟固體、粉末、液體及晶質、非晶質等物質的狀態也基本上沒有關系。(氣體密封在容器內也可分析)但是在高分辨率的精密測定中卻可看到有波長變化等現象。特別是在超軟X射線范圍內,這種效應更為顯著。波長變化用于化學位的測定 。

        3)非破壞分析。在測定中不會引起化學狀態的改變,也不會出現試樣飛散現象。同一試樣可反復多次測量,結果重現性好。

        4)XRF光譜分析儀是一種物理分析方法,所以對在化學性質上屬同一族的元素也能進行分析。

        5)分析精密度高。

        6)制樣簡單,固體、粉末、液體樣品等都可以進行分析。

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