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      網站首頁  ◇  產品展示    ◇  全元素光譜分析儀 ◇   XRF 全元素光譜分析儀 > EDX3600KEDX3600K礦石礦料成分分析儀

      EDX3600K礦石礦料成分分析儀

      產品型號:  EDX3600K

      產品時間:  2018-09-13

      所  在  地:  深圳市寶安區福永鎮鳳凰第一工業區

      產品特點:  EDX3600K礦石礦料成分分析儀亮點在于它大鈹窗超薄口的高分辨SDD探測器和自旋式的樣品腔,產品通過了江蘇省計量科學研究院的檢測,并通過中國儀器儀表學會分析儀器分會組織的科技成果鑒定,技術達到先進水平。

      (聯系我們,請說明是在 深圳市藝慈儀器有限公司 上看到的信息,謝謝?。?/h5>

      產品概述

      X熒光光譜儀屬于先進的分析檢測儀器,隨著半導體微電子技術和計算機技術的飛速發展,傳統的光學、熱學、電化學、色譜、波譜類分析技術都已從經典的化學精密機械電子學結構、實驗室內人工操作應用模式,轉化成光、機、電、算(計算機)一體化、自動化的結構,并向智能化、小型化、在線式及儀器聯用方向發展。天瑞公司在以已掌握的成熟的臺式X熒光光譜儀技術為基礎,結合國外相關新的技術發展成果,研制出具有自主知識產權的EDX 3600K型X熒光光譜儀。

       

      儀器配置

       

      鈹窗電制冷SDD探測器
      自旋式樣品腔
      高效超薄窗X光管
      信噪比增強器SNE
      超近光路增強系統
      可自動開啟的測試蓋
      自動切換型準直器和濾光片
      真空腔體
      自動穩譜裝置
      90mm×70mm的液晶屏
      先進的數字多道技術
      多變量非線性回歸程序
      相互獨立的基體效應校正模型

       

      EDX3600K礦石礦料成分分析儀能優勢

       

      1.超低能量分辨率,輕元素檢測效果更佳
      使用大面積鈹窗電致冷SDD探測器,探測器分辨率達到139eV,各項指標優于國家標準。SDD探測器具有良好的能量線
      性、良好的能量分辨率,及良好的能譜特性,較高的峰背比;對Si、S、AI等輕元素的測試具有良好的分析精度。

      2. 測試精度更高,檢出限更低
      ①專業化的樣品腔設計,帶可調速的自旋樣品腔,能有效的測定輕元素和減少樣品均一性的影響,提高樣品的測試精度。
      ②采用超小超真空的樣品腔設計,保證測試時達到10Pa以下,使設備的測試范圍可從F元素起測試,大大地提高測試范圍、輕元素檢出限和精度。

      3. 分析速度更快,從第1秒即可得到定性定量結果
      采用自主研發的數字多道技術,其線性計數率可達100kcps,可以更加快速的分析,從第1秒就可以得出定性定量結果,
      設計成高計數率,大大提高了設備的穩定性。

      4. 一鍵式智能化操作
      專業軟件,先進的FP法和EC法等多種方法嵌入的人性化的應用軟件,具有高靈敏度、測試時間短、一鍵智能化操作,使操作簡易,對操作人員限制小的特點。

      5. 強大的自動化功能
      ①自動化程度高,具有自動開蓋、自動切換準直器與濾光片等功能。
      ②采用自動穩譜裝置,保證了儀器工作的*性:利用解譜技術使譜峰分解,采用多參數的線性回歸方法,使元素間的吸收、排斥效應得到明顯的降低。

      6. 強度校正法
      具有多種測試模式設置和無限數目模式的自由添加,內置強度校正方法,可校正幾何狀態不同和結構密度不均勻的樣品造成的偏差。

      7. 完善的光路系統
      自主研發的光路系統,光程更短,光路損失更少,激發效果更佳。

      8. 三重安全防護功能
      三重安全防護功能,自動感應,沒有樣品時儀器不工作,無射線泄漏;加厚防護測試壁;配送測試防護安全罩。

      9. 安全警示系統
      警告指示系統,通電時綠色指示燈亮,測試時黃色輻射指示燈閃爍,防止誤操作。

      軟件優勢

      采用公司新的能譜EDXRF軟件,先進的FP法和EC法等多種方法嵌入的人性化的應用軟件,具有高靈敏度、測試時間短、一鍵智能化操作,操作簡易,對操作人員限制小的特點。
      具有多種測試模式設置和無限數目模式自由添加,內置強度校正方法,可校正幾何狀態不同和結構密度不均勻的樣品造成的偏差。
      全新的軟件界面和內核,采用FP和EC軟件組合的方法,應用面更加廣泛。

       

      EDX3600K礦石礦料成分分析儀技術參數

       

      型號:EDX3600K
      X射線源:50KV、1mA
      樣品腔體積:Φ40.5mm×39.5mm
      分析方法:能量色散X熒光分析方法
      測量元素范圍:原子序數為9~92[氟(F)到鈾(U)]之間的元素均可測量
      檢測元素:同時分析元素達三十多種,可根據客戶需要增加元素
      含量范圍:ppm~99.99%
      檢測時間:10秒以上
      檢測對象:標準粉未壓片及可以放入標準樣品杯的固體、液體及粉末
      探測器及分辨率:超大超薄的SDD探測器,分辨率 為144±5eV,可選配極速探測器至125eV
      激發源:銠靶或鎢靶光管根據客戶需求可供選擇
      攝像頭:高清攝像頭
      測井環境:超真空系統,10秒可抽到10Pa以下,大氣、氦氣均可以
      準直器和濾光片:四組準直器(7、5、3、1mm),6種濾光片組合自動切換
      自旋裝置:可調速的自旋裝置
      檢出限:對樣品中的大多數元素來說,檢出限達5~500ppm
      真空系統:超真空系統,10秒可到10Pa
      數據傳輸:數字多道技術,快速分析,高計數率
      測試臺:360°電動旋轉式
      保護系統:樣品腔為電動控制,上蓋打開時測試已完成
      樣品放置:*的樣品杯設計,自帶壓環,可防止樣品晃動
      數字多道技術:計數率>50kcps,有效計數率高至500kcps
      外形尺寸及重量:669mm×540mm×874mm,90KG
      操作環境濕度:≤90%
      操作環境溫度:15℃~30℃

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